台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪

Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪

供应美国博曼Bowman X射线测厚仪 镀层测厚仪 膜厚测量仪
深圳市奔蓝科技有限公司总代理美国博曼Bowman X射线镀层测厚仪及辅助配件！相比费希尔、牛津仪器和精工测厚仪更有卓越的表现！价格更实惠，软件人性化设计，极力推荐产品！并供应美国CalMetrics镀层标准片，都附有可以追溯到美国NIST认证的证书。
集销售、安装、维护、维修及培训一体化服务！

博曼Bowman镀层测厚仪，专业用于PCB电路板行业和高端要求的表面处理行业使用。

机器可以测量更小的面积，更多层的镀层，更薄的镀层厚度，测量数据非常稳定。

品牌：博曼Bowman   型号：BA-100 Optics 博曼Bowman中国区总代理

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界先进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管
微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点
射线出射点预置于射线管Be窗正中央
长寿命的射线管灯丝
独有的预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构
显著提高X射线信号强度
获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
小于100um直径的测量斑点
经过验证，接近完测量精度

性能与可操作性的优化
紧凑式设计，改善效率和精度
高分辨半导体固态探测器（Si-PIN），提高稳定性和灵敏度
更短的预热时间，更长寿命的光管
多种规格一次滤波器和准直器
可变焦距适应复杂样品的测量需求
模块化设计，方便维修、维护

简单的设计、强大的分析能力
快速、无损的分析
成份分析多可达25种元素
同时可多分析5层
基于基本参数法的镀层和成份分析方法
仅需一根USB线与电脑连接
快捷的面板控制按钮
占用空间小、轻量化设计

直观的用户界面
大的分析灵活性，减少用户出错机会
基于Net framework框架的Xralizer软件
直观的图标引导用户界面
强大的定性、无标样分析功能
功能强大的标准片库
用于快速分析的可定制快捷键
灵活的数据显示与导出
强大的报告编辑生成器

常见的镀层应用：

线路板 ：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB；Au/Pd/Ni/PCB

引线框架和连接器 ：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半导体行业：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

线材：Sn/Cu

通讯和数据储存设备 ：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠宝、贵金属 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

十多年来，深圳奔蓝科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和优质的服务都得到客户高的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。
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