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平均寿命是电子元器件常用的可靠性参数，发光二极管的平均寿命一般以光通量（光功率的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据，这时采用本标准给出的一种可缩短试验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序（简称退化系数外推解析法）。当白光LED需要考虑色温漂移时，以色温漂移为单一判据的白光LED或同时考虑色温漂移和光通量衰诚具有2个失效判据的白光LED，则采用常规的定数截尾法获取试验数据，并采用已有的国家标准：寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法（GB 2689.3-81）、寿命试验和加速寿命的线性无偏估计法（GB 2689.4-81）来进行数据处理，然而这种情况则需要较长的试验时间，而且数据处理的方法也比较复杂。
因此我们在制定"LED寿命试验方法”的标准分为2个阶段
（1）以光通量（光功率）的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据，采用退化系数外推解析法处理试验数据（也可采用GB 2689.3-81）。这一部分适用于单色光和不考虑色温漂移的白光LED已较成熟，现已可形成标准申报实用。
（2）当白光LED需要考虑色温漂移时，其失效判据及数据处理方法我们正处于研究之中。
待成熟时，将采用线性无偏估计的方法单独形成另一标准。
1适用范围
本标准规定了求取LED（以下简称产品）平均寿命的恒定应力加速寿命试验的数据获取和数据处理方法。它适用于各种单色光LED光输出和不考虑色温变化白光LED的慢退化模式。
2引用文件
GB 2689.1-81恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则
GB 2689.2-81寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布）
GB 2689.3-81寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布）
GB 2689.4-81寿命试验和加速寿命试验的线性无偏估计法（用于威布尔分布）
GB/T 4589.1-2006分立器件和集成电路总规范
SJ/T 2355-2006半导体发光器件测试方法
?7.1试验中应测量的主要参数为光通量（或光功率）、色温（色坐标），其它参数为热阻、正向电压、色容差等。测量方法及要求应符合SJT 2355-2006中的相关规定。
7.2测试环境、测试仪器及测试设备的要求应符合产品技术标准的有关规定。
7.3在没有自动记录的试验中，具体产品测试间隔时间的选择，可通过摸底试验来确定。测试间隔时间的长短与施加应力的大小有关，施加应力小，则测试间隔长；施加应力大，则测试间隔短。每个加速应力水平下的寿命试验的测试数据点数m不应少于5个（m25）。
7.4在没有自动记录的试验中取出样品进行测试到再次投入样品继续进行试验的时间一般不应超过24小时。
7.5试验过程中，每次测试均应使用同一测试仪器和工具，如必须更换时，则必须经过计量，以便保证测试精度。
8失效时间和失效数的确定
8.1有自动实时记录装置的，以自动记录到的时间计算。
8.2对于以光通量衰减作为单一失效判据
8.2.1通过光通量衰减系数计算某一产品的试验截止时间和某一结温下的工作寿命（简称退化系数外推解析法），按不同应用要求，取光通量衰减到初始值的50%或70%
作为失效判据。计算公式如下：P= Po expl-Bt）
<8.2-1>
式中：P，为初始光通量（或光功率）；P，为加温加电后对应某一工作时间的光通量
（或光功率）；B为某一结温下的退化系数；t为某一产品的试验截止时间。
In C L=t in P./p
<8.2-2>
式中：为不同的试验环境温度的应力水平，可取为1、2..；，Lc，i为某一结温下的工作寿命，C=Pt/Po；
