日本BETHEL热分析仪器热传导检查设备TSI2

热传导检查设备TSI2可以通过热将空隙、裂纹等产品或材料的缺隙可视化。

热传导检查设备TSI2优势：

1. 具备激光加热功能；

2. 宏观摄影光学系（分辨率约20μｍ）；

3. 高性能红外照相机（7.5μm～13.5μm）；

4. 独立的减噪技术；

5. 操作简单，打开盖子将样品放置到指定 位置就可以进行测量；

热传导检查设备TSI2可以对树脂、玻璃、陶瓷、金属等的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性等进行测量分析；

主要规格

TSI-2

基本性能

测量对象

样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性

输出数据

频率、距离、振幅、位相、亮度、图像数据

解析模式

点}39;范围解析、位相解析

其它配件

温度调制加热器、控制解析软件、PC

测量环境

温度

RT～250[℃]

测量频率

0.1～10[Hz]

红外照相机

元件数量

336×256

元件的种类

VOx Microbolometer

像素

17[μm]

观察波长范围

7.5～13.5[μm]

帧延迟

30[Hz]

分辨率

About 30[μm]

半导体激光

（连续振荡）

波长

808[nm]

大输出功率

5[W]

正弦波调制

0.1～30[Hz]

平台可动范围

水平（XY轴） 方向

±15[mm]

垂直（Z轴） 方向

+50[mm]

电源

AC100-240[V] 10-5[A] 50/60[Hz]

使用环境

温度

20～30(℃)

湿度

20～80(%)

保管环境

温度

0～50(℃)

湿度

20～80(%)

设备本体

外形尺寸

W552 × D602 × H657[mm]

重量

76.5[kg]

激光安全标准

CLASS1 IEC/EN 60825-1:2007