面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
爱斯佩克绝缘电阻劣化评估系统可用于助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料、BGA、CSP等精细节距IC封装件、有机半导体相关(有机EL)、电容、连接器等其他电子元器件及材料、各种绝缘材料的吸湿性特性评估。
爱斯佩克绝缘电阻劣化评估系统自主开发连续通电扫描继电器方式,配备国际标准的测量仪表,与环境试验箱联动,操作更简便更安全。标配 100V 应力电压(应力电压 / 测量电压),更有 1000V、2500V 高电压规格可选。高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化,离子迁移实时监测。「E-Graph」可实时编辑预览监测实时获得的数据。选配可使连接试样及线缆更方便,试验效率更高。
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