GDDR7 显存测试系统

固态技术协会 JEDEC 于 3 月 6 日正式发布 JESD239 GDDR7 显存标准，JESD239 GDDR7 提供的带宽是 GDDR6 的两倍，每台设备高可达 192 GB/s。

JESD239 GDDR7 是个使用脉幅调制（Pulse Amplitude Modulation，PAM）接口进行高频操作的 JEDEC 标准 DRAM。其 PAM3 接口提高了高频操作的信噪比（SNR），同时提高了能源效率。通过使用 3 个级别（+1，0，-1）在 2 个循环上传输 3 个比特，而传统的 NRZ（不归零）接口在 2 个周期上传输 2 个比特，PAM3 提供了更高的每循环数据传输速率，从而提高了性能。

Introspect Technology 宣布推出全球 GDDR7 显存测试系统，支持大规模并行、72 通道、40 Gbps PAM3 ATE-on-Bench 测试，可为显存和 GPU 制造商提供快的上市速度。

作为JEDEC组织成员，测量仪器厂商Introspect Technology宣布已经交付了全球首台M5512 GDDR7 显存测试系统，是世界上个用于测试 JEDEC 全新 JESD239 图形双倍数据速率 （GDDR7） SGRAM 规范的商业解决方案供应商。

M5512 GDDR7 显存测试系统是一款台式测试和测量仪器，它包含 72 个高性能引脚，每个引脚都能够在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度运行。每个引脚都包含用于执行读写操作的双向电路，并且每个引脚都包含一整套模拟表征功能。该系统还集成了设备供电，可以控制供电，以及高度灵活的Python环境，可用来测试GDDR7显存控制器、PHY物理层。

该系统使图形显存工程师、GPU 设计工程师、显存和 GPU 领域的产品工程师以及系统集成商能够快速启动新的 GDDR7 显存设备、调试协议错误、表征信号完整性，并执行详细的显存读 / 写功能压力测试，而无需任何其他工具。

总的来说，这套系统可以全方位测试、验证GDDR7显存的各方面的表现。