晶体管特性图示仪iv和cv曲线仪

晶体管特性图示仪iv和cv曲线仪优势：

IV、CV一键测；一体机，支持远程指令控制；支持三同轴接探针台

能够覆盖从材料、晶圆、器件到模块的测试；详询一八一四零六六三四七六；

产品特点：

30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；

测量精度高,全量程下可达0.03%精度；


内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；


自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；

提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；

免费提供上位机软件及SCPI指令集；


典型应用：

纳米、柔性等材料特性分析；


二极管；


MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；


第三代半导体材料/器件；


有机OFET器件；


LED、OLED、光电器件；

半导体电阻式等传感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；

电阻率系数和霍尔效应测量；

太阳能电池；

非易失性存储设备；

失效分析；

SPA-6100晶体管特性图示仪iv和cv曲线仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有桌越的测量效率与可靠性。

基于模块化的体系结构设计，SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程，实现和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。