igbt静态性能测试设备_功率器件测试设备

SiC/IGBT功率半导体器件主要测试参数

  近年来IGBT成为电力电子领域中尤为瞩目的电力电子器件,并得到越来越广泛的应用,那么IGBT的测试就变的尤为重要了。lGBT的测试包括静态参数测试、动态参数测试、功率循环、HTRB可靠性测试等,这些测试中蕞基本的测试就是静态参数测试。

  随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。通常，主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特性、开关特性。静态参数特性主要是表征器件本征特性指标，与工作条件无关的相关参数，如很多功率器件的的静态直流参数（如击穿电压 V(BR)DSS、漏电流I CES/IDSS/IGES/IGSS、阈值电压VGS(th)、跨导Gfs、压降VF 、导通内阻RDS(on)）等。功率半导体器件是一种复合全控型电压驱动式器件，兼有高输入阻抗和低导通压降两方面的优点；同时半导体功率器件的芯片属于电力电子芯片，需要工作在大电流、高电压、高频率的环境下，对芯片的可靠性要求较高，这给测试带来了一定的困难。市面上传统的测量技术或者仪器仪表一般可以覆盖器件特性的测试需求，但是宽禁带半导体器件SiC(碳化硅)或GaN(氮化镓)的技术却极大扩展了高压、高速的分布区间。如何表征功率器件高流/高压下的I-V曲线或其它静态特性，这就对器件的测试工具提出更为严苛的挑战。

普赛斯igbt静态性能测试设备_功率器件测试设备解决方案

  PMST系列功率器件静态参数测试系统是武汉普赛斯正向设计、精益打造的高精密电压/电流测试分析系统，是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统，具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势，旨在全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试，并具有的测量效率、一致性与可靠性。让任何工程师使用它都能变成行业专家。

  针对用户不同测试场景的使用需求，普赛斯全新推出PMST功率器件静态参数测试系统、PMST-MP功率器件静态参数产线半自动化测试系统、PMST-AP功率器件静态参数产线全自动化测试系统三款功率器件静态参数测试系统。


从实验室到小批量、大批量产线的全覆盖

从Si IGBT、SiC MOS到GaNHEMT的全覆盖

从晶圆、芯片、器件、模块到IPM的全覆盖

产品特点

1、高电压、大电流

具有高电压测量/输出能力，电压高达3500V（蕞大可扩展至10kV）

具有大电流测量/输出能力，电流高达6000A（多模块并联）


2、高精度测量

nA级漏电流，μΩ级导通电阻

0.1％精度测量

四线制测试


3、模块化配置

可根据实际测试需要灵活配置多种测量单元

系统预留升级空间，后期可添加或升级测量单元


4、测试效率高

内置专用开关矩阵，根据测试项目自动切换电路与测量单元

支持国标全指标的一键测试

5、软件功能丰富

上位机自带器件标准参数测试项目模板，可直接调取使用

支持曲线绘制

自动保存测试数据，并支持EXCEL格式导出

开放的标准SCPI指令集，可与第三方系统集成


6、扩展性好

支持常温及低温、高温测试

可灵活定制各种夹具

可与探针台，温箱等第三方设备联动使用

普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、率测量和分析。如果您对普赛斯功率半导体器件静态参数测试方案和国产化高精度源表感兴趣，欢迎随时联系我们！详询一八一四零六六三四七六；